Integrierte Photonik, auch bekannt als Silizium-Photonik, verändert verschiedene Industriesegmente wie die Kommunikation innerhalb von Rechenzentren, die Verbindung von Rechenzentren (DCI), die Telekommunikation, 5G, die Konnektivität von Fahrzeugen, Hochleistungscomputer, LIDAR, Sensorik und medizinische Anwendungen. Effiziente Testlösungen sind für die Weiterentwicklung dieser Technologien von entscheidender Bedeutung.
Definition und Komponenten
Integrierte Photonik umfasst die Integration optischer Komponenten auf einem einzigen Chip, wobei in der Regel Silizium als Basismaterial verwendet wird.
Vorteile
Höhere Datenübertragungsraten, geringerer Stromverbrauch und Skalierbarkeit im Vergleich zu herkömmlichen elektronischen Komponenten.
Anwendungen
Zu den wichtigsten Anwendungen gehören die Kommunikation in Datenzentren, Telekommunikationsnetze, Sensoren in Fahrzeugen und medizinische Geräte.
Prüfung auf Wafer-Ebene
Effiziente Tests auf Waferebene sind aufgrund der Integration verschiedener optischer Komponenten auf einem einzigen Chip unerlässlich.
Geräte-Integration
Höhere Datenraten und Integrationsstufen erhöhen die Komplexität der Tests.
Multi-Die-Designs
Der Übergang von gehäusten Bauteilen zu Multi-Die-Designs erfordert neue Testansätze.
Zugang für das Testen
Integrierte Geräte können den Zugang für das Testen einschränken, was neue Methoden erfordert.
Wellenlängen- und polarisationsabhängige Messungen
Verwendet abstimmbare Laserquellen, Polarisationssynthesizer, Multiport-Leistungsmesser und Quellenmessgeräte mit Anwendungssoftware.
RF-Prüfung
Wird mit dem Keysight Lichtwellen-Komponentenanalysator durchgeführt.
Automatisierte Wafer-Prüfung
Die FormFactor-Probe-Station wird für das automatisierte Wafer-Probing verwendet.
Digitaler Hochgeschwindigkeitsentwurf
Analysiert mit ADS-Software.
O/E- und E/O-Design-Analyse
Unterstützt Hochfrequenzmessungen bis zu 67 GHz und darüber hinaus.
Zugehöriger Anwendungshinweis: On-Wafer-Test von opto-elektronischen Komponenten
Diese Application Note beschreibt den Prozess und die Vorteile von On-Wafer-Tests für optoelektronische Komponenten, insbesondere unter Verwendung des N437xD/E Lightwave Component Analyzers. Er betont die Bedeutung präziser Kalibrierungs- und Messtechniken für genaue S-Parameter-Messungen, sowohl single-ended als auch symmetrisch.
PathWave Testautomatisierungsplattform (TAP)
Umfasst Testrezepte, die Definition von Messplänen und deren Ausführung.
Automatisierte Photonische Anwendungssuite
Integriert mit TAP-Plug-ins für rationalisierte Tests.
Wafer Prober Plugin
N7700210C Plugin für die automatische Steuerung von Wafer-Prober-Stationen.
LCA-Mess-Plugin
N4370P01A Plugin für automatisierte O/E und E/O Messungen.
Integrierte Lösung aus einer Hand
Bietet ein vollautomatisches Wafer-Probing-System.
Hochdurchsatz-Tests
Entwickelt für die Massenproduktion mit garantierter Systemleistung.
Zugehöriger Anwendungshinweis: Optischer Test auf Wafer- und Chip-Ebene
Dieser Anwendungshinweis unterstreicht die Bedeutung von Tests auf Wafer-Ebene bei der Produktion von photonischen integrierten Schaltungen. Er erörtert die Notwendigkeit parametrischer Tests in einem frühen Stadium, um die Qualität und Leistung der Bauelemente zu gewährleisten. Dabei werden elektrische und optische Messungen einschliesslich der HF-Frequenzabhängigkeit behandelt.
Keysight bietet verschiedene Hardware-, Software- und Servicepakete an, um spezifische Prüfanforderungen zu erfüllen:
Effizientes Testen ist entscheidend für die Entwicklung und den Einsatz integrierter Photonentechnologien. Die umfassenden Lösungen von Keysight ermöglichen präzise und automatisierte Tests und unterstützen so Innovation und Effizienz in diesem Bereich. Für weitere Informationen oder um spezifische Lösungen zu erkunden, wenden Sie sich bitte an unser Vertriebsteam.